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扩展相容性多扫描树的设计

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:152 | 2009-04-11

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针对实际电路具有多个扫描输入的情况，设计出一种新的具有多个扫描输入的扫描树结构，该结构能有效降低测试应用时间和平均测试功耗。实验结果表明，当有两个扫描输入时，测试应用时间最高可降低52.4%，平均功耗最高可降低60.8%。
关键词：多扫描树；可测性设计；全扫描测试
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