如果从测试的角度看,理论上还是可以通过一些方法来减少丢包的:1) 一块单板用户端口间测试时,如果采用稍高50MHz的晶阵,可以实现长时间满负荷工作不丢包。2) 一个子架的多个单板或者多个节点的多个单板测试时,必须采用高精度(如10ppm)、温度特性好、一致性好的50M晶阵,可以减少丢包。
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