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改进的大规模集成电路测试方法

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:269 KB | 2011-10-28

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为了提高大规模集成电路可测性设计(Design For Test，DFT)的故障覆盖率，减少测试时间，通过分析自我测试(Self-Testing Using MISR and Parallel SRSG，STUMPS)方法中的测试机制，找出了其测试效果不理想的原因，提出了改进型的大规模集成电路的测试方法，用C 语言编写了故障模拟程序，并且在ISCAS’85 标准测试电路上进行了验证。
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评论(1)
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周家胜 2012-08-31
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太好了 资料翔实
值得下载 收起回复

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