资料下载
×
新一代半导体照明测量技术
消耗积分:0 |
格式:pdf |
大小:4 MB |
2011-10-31
分享资料个
一LED光学性能测量技术的发展
二CCD图像技术在LED光源和LED背光测量中的
运用
三Imaging Sphere技术在LED光源远场发光强
度和背光角度特性测量中的运用
四Source Imaging Goniometer技术在LED光源
近场特性测量中的运用
五FPMS技术在LED照明和LED背光视角特性测量
中的运用
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉
评论(0)
发评论
- 相关下载
- 相关文章
