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通过辐射发射测试:如何避免采用复杂的EMI抑制技术以实现紧凑、高性价比的隔离设计

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:未知 | 2023-11-22

李伟

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出于各种原因,电子系统需要实施隔离。它的作用是保护人员 和设备不受高电压的影响,或者仅仅是消除PCB上不需要的接 地回路。在各种各样的应用中,包括工厂和工业自动化、医疗 设备、通信和消费类产品,它都是一个基本设计元素。 虽然隔离至关重要,但它的设计也极其复杂。控制功率和数据 信号通过隔离栅时,会产生电磁干扰(EMI)。这些辐射发射(RE) 会对其他电子系统和网络的性能产生负面影响。 对于带隔离的电路设计,一个重要的步骤是跨隔离栅传输功 率,并缓解产生的RE。虽然传统方法可能行之有效,但它们往 往需要权衡取舍。其中可能包括使用分立式电路和变压器来传 输功率。这种方法笨重耗时,会占用宝贵的PCB空间,无一不 会增加成本。更经济高效的解决方案是将变压器和所需的电路 集成到更小外形中,如芯片封装。

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