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第三代SiC功率半导体动态可靠性测试系统介绍

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:8.02 MB | 2024-04-23

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第三代SiC功率半导体动态可靠性测试系统KC-3105。该系统凭借高效精准、可灵活定制、实时保存测试结果并生成报告、安全防护等优秀性能。严格遵循《AQG 324机动车辆电力电子转换器单元用功率模块的验证》和《AEC Q101车用分立半导体元器件的基于失效机理的应力测试验证》等行业标准，确保测试结果的准确性和可靠性。

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