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Ka波段相控阵天线的平面近场单探头测试方法

消耗积分:1 | 格式:pdf | 大小:1.67 MB | 2024-07-23

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摘  要 ：为满足 Ka 频段相控阵天线日益增长的测试需求,中国信息通信研究院泰尔系统实验室搭建了以单探头平面 近场为基础的 Ka 频段相控阵天线测试系统。系统采用单探头扫描方式进行近场数据采集,运用近远场转换技术生成远 场数据,可从多维度分析测试结果,产生多种可视化的图形 ;有相控阵天线单元校准测试功能,能够为有源、数字相 控阵天线提供阵面通道的一致性快速测试和配相手段。近场、远场以及实验室间的对比测试证明了平面近场测试系统 的准确性。系统测试效率高、建设和运营成本低,目前已完成测试功能的调试,并为国内外多家企业完成认证测试工作, 是 Ka 波段相控阵天线测试的可靠平台。

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