相控阵天线的数字波束形成技术具有多波束、灵活的波束控制和波束重构等优点,但是阵列通道误差的存在使得这些优越性受到影响。相控阵天线系统的误差可以分为两类,即固定误差和随机误差。固定误差在制造安装时产生,系统测试时可以准确测出并校正,本文不考虑这种误差。随机误差又可以分为短暂误差和长期误差,短暂误差由系统的稳定性决定。本文仅对由温度、时间等引起的长期存在的随机误差进行分析。这种误差包括由于热胀冷缩等引起的阵元位置误差,阵元老化等导致的阵元增益误差,各通道内器件参数的不一致引起的幅相误差等。
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