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Reference Design Optimizing FPGA Utilization and Data Throughput for Very High Channel Count Automatic Testers

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:6.63 MB | 2017-05-02

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  泰德- 01051参考设计用来展示优化通道密度、集成、功耗、时钟分布和信号链的性能非常高的通道数等数据采集(采集)系统自动测试设备中使用的那些(吃)。 使用序列化器,如TI的DS90C383B,结合许多同时采样ADC输出成几个LVDS行可以显著降低针主机FPGA必须处理的数量。 因此,单个FPGA可以处理显著增加数量的采集渠道和董事会路由复杂度大大降低。

Reference Design Optimizing FPGA Utilization and Data Throughput for Very High Channel Count Automatic Testers

  FPGA(Field-Programmable Gate Array),即现场可编程门阵列,它是在PAL、GAL、CPLD等可编程器件的基础上进一步发展的产物。它是作为专用集成电路(ASIC)领域中的一种半定制电路而出现的,既解决了定制电路的不足,又克服了原有可编程器件门电路数有限的缺点。

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