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单粒子效应置信区间计算

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:496.26KB | 2024-09-10

韩刚龙

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　　由于在整个暴露过程中通常观察到少量事件，甚至观察不到任何事件，因此确定具有强大耐辐射功能的器件的 SEE 截面变得愈发困难。使用具有标准偏差的平均事件发生率来确定截面不再可行，并且假设在结果为零时发生单个错误的常见做法会最终导致截面被大大低估。在观察到少量事件或观察不到事件的情况下，建议使用置信区间和卡方分布。卡方分布特别适合在事件以恒定速率发生时用于确定可靠性级别。在 SEE 测试中，如果在辐照区域内离子事件的时间和位置随机，则预计事件发生率与时间无关(假设总电离剂量引起的参数偏移不会影响故障率)，因此，使用卡方统计技术是有效的(由于事件非常少，通常使用指数分布或泊松分布)。

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