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应对多样化数字接口测试挑战的解决方案——基于可编程FPGA的测试
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2017-10-12
MEI_大石头
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当测试工程师考虑如何测试数字接口时，就必须在技术指标需求和方案成本之间进行权衡。有些公司会选择为特定通信协议测试而设计的专用仪器。或者，选择通用数字 I/O 测试设备，只要测试工程师付出一些努力就可以用来测试大量协议。除了选择测试仪器，测试工程师经常通过自行设计电路来实现与被测部件（UUT）的逻辑系列接口吻合。随着可编程硬件的到来，尤其是 FPGAs，测试工程师在测试设备的成本选择方面有了新工具。基于 FPGA 的测试仪器使测试工程师可以通过使用商用 IP 内核、自主开发或定制 IP 内核构建测试方案。通过对这些 IP 内核与 FPGA 中额外的寄存器/逻辑的集成，并提供必要的逻辑系列接口（TTL、LVDS 等），测试工程师可以实现使用单台仪器测试多种接口。很多公司支持军方客户发展可以测试多种产品的通用测试站。测试站被设计用于测试 “大部分”UUTs。对于测试“大部分”以外的 UUTs，随着“大部分”以外的 UUTs 的数量和种类的增加，为了完成全部测试，需要使用的测试仪器的数量也会成直线彪升。在通用测试站中使用可编程仪器，可减少对测试“大部分”以外的 UUTs 的仪器数量甚至不再需要额外的测试仪器。基于 PXI［1］ FPGA 板卡为测试站提供此种解决方案，如图 1。
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