×

基于VXI总线的多功能边界扫描控制器

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:224 | 2009-12-05

刘芳

分享资料个

根据系统级边界扫描测试技术的应用需求，基于VXI总线的多功能边界扫描测试控制器具备三种操作模式：IEEE1149.1 TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和从控制器模式。由上位机控制模件组态到期望的模式，模件上的TAP口控制器产生1149.1测试信号，提供给JTAG口用于通过TDO/TDI扫描链对被测目标板进行边界扫描测试。IEEE1149.5主控制器可完成和从控制器间的通讯以便对机箱或子系统级中可测试性模件进行边界扫描测试。兼容于BSDL和EDIF文件格式的自动测试向量生成软件可实现多种扫描测试功能。
下载并关注上传者 低至0.43元/天 开通VIP 免费下载

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !