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光纤耦合技术及光纤分路器可靠度试验失效模式的分析
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2017-11-14
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本文主要介绍光纤分路器的 GR-1209 可靠度试验 及其失效模式分析。
光纤耦合技术自 1985 年起 即为许多专家所开始使用 其目地是使输入光从一根光纤传输到另外二根光纤 达到光强度分配的作用 是光无源器件中相当重要的组件 其制做原理是根据 Maxwell 方程 推导出光在柱状体中传播时 波长与强度的 Bessel 函数关系而来的 在生产上主要是利用熔融拉锥工艺（FusedBiconical Taper FBT） 用专门的设备将两根光纤在氢氧气或丙烷气的高温下烧熔再按照产品所需的工作波长 带宽 分光比等光学特性 按所设定的参数将其向外拉 即完成所需光学特性的光分路器烧结过程 完成烧结过程后的光纤 需再经过封装过程才算完成成品 其过程是将光纤丝先在基板（substrate）上固定 以保持烧结后光纤丝的光学特性 再将光纤及基板装入外包装材料 以保护光纤丝及基板 并能满足商业使用方便性的要求 该封装过程中除需考虑使用方便外 更需考虑产品在不同环境及使用状况下应符合可靠度的要求。
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