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基于PC的LED外延片无损检测扫描系统

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:223 | 2009-12-23

王毅山

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介绍了对新型发光二极管外延片光致发光系统的改进，以VC.net 为语言工具编制软
件，对发光二极管外延片关键性能参数的测量结果进行分析。增加了薄膜厚度测量的性能，完善了测量系统的功能。基于PC 的检测系统智能化、自动化，实现了对LED 外延片的无损、快速、准确的在线扫描测量。
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