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闩锁效应
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芯片失效机理之闩锁效应
2024-12-27
272阅读
如何正确选用SCR架构TVS以避免闩锁效应
2024-08-12
1125阅读
具有1.8V逻辑电平和闩锁效应抑制的TMUX720x44V、8:1单通道和4:12通道精密多路复用器数据表
2024-03-20
158阅读
适用于单端和差分操作的现代化8:1多路复用器TMUX582F-SEP数据表
2024-03-20
190阅读
具有闩锁效应抑制和1.8V逻辑电平的44V、低RON、2:1、4通道精密开关TMUX7234数据表
2024-03-20
160阅读
具有闩锁效应抑制和1.8V逻辑电平的44V、低RON、1:1 (SPST)、单通道精密开关TMUX720x数据表
2024-03-20
132阅读
具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体(CMOS)开关TMUX722x数据表
2024-03-20
170阅读
具有1.8 V逻辑电平和闩锁效应抑制特性的44V 2:1 (SPDT)精密开关TMUX7219数据表
2024-03-20
155阅读
具有闩锁效应抑制和1.8V逻辑电平的低RON、1:1 (SPST) 4 通道精密开关TMUX721x数据表
2024-03-20
159阅读
具有1.8V逻辑电平和闩锁效应抑制的TMUX7219-Q1 44V 2:1 (SPDT)精密开关数据表
2024-03-20
154阅读
具有可调节故障阈值、1.8V逻辑电平和闩锁效应抑制的±60V故障保护、4 通道保护器TMUX7462F数据表
2024-03-20
165阅读
具有闩锁效应抑制和1.8V逻辑电平的±60V故障保护、1:1 (SPST)、4 通道开关TMUX741xF数据表
2024-03-20
159阅读
具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体 (CMOS) 开关TMUX7219M数据表
2024-03-20
162阅读
具有闩锁效应抑制和1.8V逻辑电平的TMUX821x 100V、扁平Ron、1:1、四通道开关数据表
2024-03-20
155阅读
具有闩锁效应抑制特性的互补金属氧化物半导体 (CMOS) 开关TMUX7236数据表
2024-03-20
144阅读
具有闩锁效应抑制的220V高压1:1、16通道开关TMUX9616数据表
2024-03-20
182阅读
具有闩锁效应抑制和1.8V逻辑电平的100V、扁平RON、单路8:1和双路4:1多路复用器TMUX810x数据表
2024-03-20
145阅读
芯片设计都不可避免的考虑要素—闩锁效应latch up
2023-12-01
3109阅读
闩锁效应（Latch-up）原理及其抑制方法解析
2023-12-01
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HK32MCU应用笔记（七）| 航顺HK32MCU闩锁效应问题研究及预防措施
2023-09-18
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