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嵌入式存储器内建自修复技术

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:453 KB | 2011-05-28

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嵌入式存储器正逐渐成为SoC的主体结构，对嵌入式存储器进行内建自测试（BIST, Build-in Self-Test）和内建自修复（BISR, Build-in Self-Repair）是降低制造成本，提高SoC成品率和可靠性的必要环节。本文介绍了嵌入式存储器的基本结构、自测试和自修复的流程，主要介绍了存储器内建自修复的种类、修复的策略和设计修复结构使用的电子设计自动化（EDA，Electronic Design Automatic）工具等。

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