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ZnO紫外光电阴极制备及激活工艺技术

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:921 KB | 2011-11-11

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研究了氧氩比、基片温度,对晶粒质量的影响,以及表面电阻与溅射时间之间的关系,使薄膜具有高电阻率,并研究了激活前后光暗电流的关系,满足薄膜在紫外探测器领域的应用。

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