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机床用光栅测量技术的最新发展

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:333 | 2009-05-14

李艳

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机床用光栅测量技术的最新发展:随着数控技术在机床制造领域的普及,现代机床在加工速度,加工精度和可靠性方面都有了巨大的进步。作为数控机床核心技术之一的光栅测量技术对保障现代机床的各项性能指标起着决定性的作用。清楚了解现代光栅测量技术的发展趋势,正确选择适合自身需求的光栅测量系统对机床设计师和机床用户有着重要的意义。
光源玻璃标聚光扫描掩绝对轨增量轨全闭环控制逐渐成为标准感光元传感单元阵列
由精密丝杠和编码器构成的半闭环控制系统对于机床热变形导致的加工误差无法进行补偿。在过去的十余年中,采用数学建模预测变形或通过实时测量温度变化来计算变形等尝试在技术上和经济性上都未能取得令人满意的结果。
采用全闭环控制结构的机床,机床传动部件的热变形处于位置控制环之内,误差自动得到补偿。与半闭环系统不同,全闭环系统的补偿效果几乎不随机床工况,磨损状况及加工程序的不同而发生变化,机床可以长期保持初始加工精度。这对于机床生产厂家和用户来说,都意味着巨大的经济效益。

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