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准静态C-V测量中的漏电流校正影响

消耗积分:1 | 格式:pdf | 大小:0.20 MB | 2024-05-22

Lxp6693

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MOS结构中的栅极电流会使准静态的结果发生变形。本文提出并讨论了几种校正方法来补偿这种影响。对所有方法的局限性进行了量化，并提出了变通方法。

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