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普赛斯仪表 | 半导体电阻式传感器特性分析解决方案
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2024-06-06
利用源表SMU可以灵活的进行电阻测量
I-V测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应。根据待测器件(DUT)的不同，信号电平可能相当低，需要高灵敏度源和测量仪器及测试技术，最大限度地减少误差的外部来源，而且需要有快的测试速度和高的测试可靠性做保证。
半导体电阻式传感器I-V特性测试传统需要几台仪器完成，如数字表、电压源、电流源等。然而，由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。而且，使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作，有更大的不确定度及更慢的总线传输速度等缺点。
实施I-V特性分析的最佳工具之一是数字源表(SMU)。数字源表作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。
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