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电容性负载的稳定性

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:2048 | 2009-09-25

吴藩

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电容性负载的稳定性:从稳定性分析工具套件中，我们可以看到，具有双通道反馈的RISO 技术由一阶分析得出，经Tina SPICE环路稳定性仿真确认，并由Tina SPICE 中的Vout/Vin AC 传输函数分析进行检验，最后采用Tina SPICE 中的实际瞬态稳定性测试方法进行全面的检验。在过去长达25 年中，我们在真实环境以及实际的电路情况下进行了测算，充分验证了这种电容稳定性技术。然而，由于资源的限制，本文所述电路并未进行实际构建，在此仅供读者练习或在自身特定的技术应用(如分析、合成、仿真、构建以及测试等)中使用。双极发射极跟随器：具有双通道反馈的RISO
我们选择用于分析具有双通道反馈的RISO 的双极发射极跟随器为OPA177，具体情况请参阅图1。OPA177为一款低漂移、低输入失调电压运算放大器，其能在±3~±15V 的电压范围内工作。
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