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如何实现更精确的电流限制并避免损坏受测器件
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2024-08-29
李林
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在测试和测量应用中，一个主要问题是流经被测器件 (DUT) 的电流过大可能导致器件负载损坏。由于功率运算放大器的输出电流驱动能力可能会超过要施加到 DUT 的有意降低的特定电流电平，因此可能需要限制输出电流以防 止 DUT 损坏。在现代系统中，必须添加电流限制电路以防止这种过流事件。但是，利用用户可设置的德州仪器 (TI) 电流限制 (ILIM) 技术，可以消除对外部电流限制电路的需求，因此将降低测试系统的复杂性和成本。 本文是由四部分组成的系列内容的最后一部分；该系列讨论如何使用基于 TI 专有互补金属氧化物半导体精密工艺 技术构建的运算放大器来提高系统精度和效率。
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