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基于逻辑仿真移相伪随机序列研究

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:0.19 MB | 2017-09-08

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　　为了较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路较高的故障覆盖，提出了一种数字集成电路测试中多扫链的配置方法。该方法基于最大周期的线性反馈移位寄存器LFSR生成的m序列的移位可加性，可使较短长度的LFSR驱动多个扫描链；为了减少LFSR生成系列的互相关性，利用LFSR与其对偶LFSR间的关系，提出了基本逻辑仿真的移相器的快速设计方法。

基于逻辑仿真移相伪随机序列研究

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