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基于VDMOS纵向电场的影响研究

消耗积分:1 | 格式:rar | 大小:0.96 MB | 2017-11-01

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　　本课题的研究目的旨在从改变功率VDMOS的结构参数入手得到外延层厚度和栅源电压对功率VDMOS纵向电场的影响，并且在结构参数变化的范围内分析出最大电场位置的变化，为优化器件的性能起到指导作用。通过二维仿真工具TSUPREM4和MEDICI仿真器件的结构和电场并以图表的形式计算得到最大电场位置的变化趋势。通过修改器件的外延层厚度得到了在不同的参数下其纵向电场的分布接近封闭的拱形曲线并且随着外延层厚度的增加最大电场的位置接近线性的变化趋势，外延层厚度每增加1.5um到2.5um，最大电场点的位置会上升外延层厚度的百分之3到百分之6．、改变器件的栅源电压使器件在进入准饱和区之后纵向电场分布十分稳定不在受栅源电压的影响而没有进入准饱和区时电场随着栅源电压的增大而增大。

基于VDMOS纵向电场的影响研究

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