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LED过电冲击的原因及ESD和过电压等保护方法的介绍
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2017-11-14
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本应用说明描述了过电冲击 （EOS） 事件，它们对 Cree XLamp LED 的影响，以及一些保护 XLamp LED，使其不受 EOS 损坏的简单方法。简单而言，过电冲击就是 LED 上施加的电流超过该 LED 技术数据表中规定的最大电流。这与 EOS 事件的次数或持续时间长短无关，因为任何一次 EOS 事件都可能导致 LED 损坏。这种损坏可以表现为器件立即失效，也可能在发生 EOS 事件后许久后才失效。
本应用说明假设电源或其它保护系统中已经实现了主保护电路，以防雷击、电涌、功率串扰等引起的损坏，并着重介绍了二次保护电路如何在实践中保护 LED 不受常见 EOS 事件的损坏。请注意本文档不能作为关于二次保护电路的完整指导。
焊接线损坏
因 EOS 而导致的其中一种常见失效模式是 LED 封装内部的焊接线受损，如下图 1 所示。这种损坏通常表现为接线烧毁或烧断。此外，EOS 事件还能导致靠近焊接线的其它材料损坏，例如密封材料或荧光体。
焊盘附近损坏
因 EOS 而导致的另一种常见失效模式是 LED 芯片本体靠近焊盘的位置受损，如下图 2 所示。
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