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使用抗闩锁多路复用器帮助提高系统可靠性

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:621.75KB | 2024-09-27

张勇

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在基于CMOS的集成电路中，有一种不良现象称为闩锁；其中系统的工作条件或瞬态事件会在IC的电源轨之间造成短路。本应用笔记简要讨论闩锁的来源、原因、闩锁抗扰度对模拟多路复用器的意义，以及使用闩锁免疫多路复用器如何提高系统可靠性。
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