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半导体FT测试MES的流程定制功能的类设计

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:1.02 MB | 2017-12-05

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　　使用MES提高生产力已经成为半导体测试厂商的常见手段，而客户对FT测试流程及测试步骤的多样化需求要求MES软件必须具有灵活定制测试流程的功能，并在必要时能够由开发人员在MES软件中快速扩展出新种类的测试步骤。本文根据FT测试流程及其中各类测试步骤的业务特点进行了类设计，并使用“组合”设计模式使其具有优良的可扩展性。测试结果表明，基于该类设计的功能实现满足了流程测试步骤灵活制定、测试结果数据保存等功能，并具有十分优良的可扩展性，可较好的应用于半导体FT测试MES软件中。

半导体FT测试MES的流程定制功能的类设计

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