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高速接口芯片测试技术

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:344 | 2009-12-23

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高速接口芯片测试技术
爱德万测试北京分公司 李科童 爱德万测试上海分公司 刘旸
在电子、微电子及通信领域，近年来一个突出的特点就是数据传输量的与日
俱增，这也给与之应对的接口芯片提出了更高的要求，也成为大量高速接口芯片
出现的契机。本文将对当今高速接口芯片做一个简明的介绍，并重点以LVDS 接
口芯片为例，讲述高速接口的测试技术。
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