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强光致CCD过饱和效应机理分析?
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2010-03-05
贾桂林
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分析了正常工作条件下ＣＣＤ 信号检测电路工作的全过程；指出了在正常工作状态下ＣＣＤ 对检测电路的注入是以低占空比的周期性窄脉冲方式进行的，配合有效的复位机制，使每个像素的复位电平保持为常值。根据ＣＣＤ 过饱和状态的产生条件和ＣＣＤ 信号传输沟道内的电势分布特点，提出了ＣＣＤ 过饱和状态的物理实质，即激光在ＣＣＤ 的受辐照点处提供了一个光生电流源，光生电荷将ＣＣＤ 的传输势阱全部填满之后使得ＣＣＤ 由一个电荷器件转变为一个电流器件。电流通过由ＣＣＤ 时钟的低电平所确定的沟道传输，使ＣＣＤ 对检测电路的注入以近乎连续的周期性长脉冲方式进行，导致了复位电平的改变，造成过饱和的视频图像。
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