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红外焦平面阵列CMOS读出电路参数的计算机辅助测试系统

消耗积分:2 | 格式:rar | 大小:102 | 2010-05-05

安德森大

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摘要:读出电路是红外焦平面器件研究的关键技术之一,本文研制出一种用于CMOS读出电路参数测试的计算机辅助测试系统。该系统可靠、精度高,有完整的软硬件环境,以适应各种读出电路的测试。
关键词:红外焦平面阵列;CMOS读出电路;复杂可编程逻辑器件;计算机辅助测试

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