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混合型电路的内装式自测试(BIST)结构

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:444 | 2010-08-06

王刚

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随着超大规模集成电路(VLSI)制造密度的提高．使得电子电路和系统变得日益复杂．也显著地拉加了模拟和数字集成电路充分测试的难度．另外．市场竞争的压力对集成电路(Ic)的-恻试质量和工作周期的加快都提出更高要求。由于Ic测试往往关系到项目的成败，故而Ic测试常占到IC开发周期的近1/3。
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