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粗波分复用光学器件的测试
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2011-07-19
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粗波分复用(CWDM)器件一般采用成熟的薄膜滤波器技术。薄膜滤波器由晶片制成，上面淀积多个交替层，这些层由折射系数不同的两种或多种材料制成。各层的确切厚度对器件的性能至关重要。在淀积过程中，通过检测由于频谱测量干扰导致的传输功率变化，可以检验器件的厚度。在淀积过程之后，一般会检查晶片，确定晶片的厚度是否符合预定的损耗模式。这个模式规定了滤波器通带中的损耗和损耗变化、带宽和串扰特征。事实证明，这种提前检查晶片的方法在生产过程早期可以节约成本，因为它避免了剪断和打磨光学特征不符合晶片规范的滤波器立方体
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