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如何才能实现红外热像仪对温度的精确测量
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为实现红外热像仪对温度的精确测量，根据热辐射理论和红外热像仪的测温原理，推导了计算被测物体表面真实温度的通用计算公式；讨论了发射率对测温精度的影响，分析了用红外热像仪进行精确测温的条件，探讨了环境、大气和热像仪本身对测量精度的影响，并绘制了各种因素对测温精度影响的理论曲线。结果表明：发射率为０．７时，真实温度为５０℃，发射率偏离０．１时，对于３～５μｍ 热像仪来说，测温结果偏离真实温度０．７６～０．８９ ℃；对于８～１４μｍ 热像仪来说，测温结果偏离真实温度１．５６～１．８７℃。本研究结果对提高热像仪测量温度和表面发射率的准确性，减小不必要的测量误差具有实际意义。
红外热像仪为实时表面温度测量提供了有效、快速的方法。与其他测温方法相比，热像仪在以下两种情况下具有明显的优势：温度分布不均匀的大面积目标的表面温度场的测量；在有限的区域内快速确定过热点或过热区域的测量。被测表面的发射率、反射率、环境温度、大气温度、测量距离和大气衰减等因素，直接影响红外热像仪测温的准确性，也影响热像仪在一些领域的应用。例如，在进行 ＰＣＢ电路板的温度测量时，由于发射率变化很大，非常需要可以在热图中每个像素运用不同发射率值的分析软件。杨立等考虑了被测表面的发射率、反射率（或吸收率）、环境温度、大气温度、大气衰减等因素，总结了这些因素的测量误差对红外测温误差的影响。张健等着重分析了环境高温物体对红外测温误差的影响。
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