电子设备通常用机壳来屏蔽外界电磁场的干扰,机壳外部通常会开孔来提供通风性、可见性,而这样的开孔会使外部的电磁场通过孔缝耦合到设备机壳内部,从而在机壳内部的设备或印刷电路板上感应出电流和电压,降低设备或元件的性能,严重时会对内部设备造成损坏。因此,研究有空屏蔽腔对电磁干扰的电磁屏蔽效能有重要的实际意义和价值。从以往的研究看,提高屏蔽效能的方法有很多,如相同面积下,孔阵的屏蔽效能优于单孔的屏蔽效能,双层孔的屏蔽效能优于单层的屏蔽效能,也研究了很多因素对屏蔽效能的影响,如孔的大小,形状,孔间距,电磁波极化方向等。本文主要推导出双层加载电路板屏蔽腔屏蔽效能公式,并运用CST仿真验证,研究电路板大小、位置、数量等因素对后腔中心点屏蔽效能的影响。
1、理论
1、理论平面波垂直照射双层有矩形孔加载电路板的屏蔽腔的模型如图1所示。一般情况下,由孔缝耦合进入屏蔽腔的能量要比穿透腔体壁进入屏蔽腔的能量要多,因此只考虑耦合能量。
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