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光调制散射器在近场测试中的应用
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给出以互易原理为基础的光调制散射器测量法的理论推导，采用光电二极管光导开关作为散射器中间部分的光调制单元，设计出了实用的光调制散射器微波测量系统。并利用光调制散射器测量开口波导轴线的近场分布结果，与HFSS仿真结果比较具有良好的一致性。
关 键 词 光调制散射器; 互易原理; 近场测试; 开口波导
任何测量辐射天线近场方法都会对场产生扰动，传统的方法是用开口波导作为探头进行测量。由于探头和连接电缆都为导体，并且尺寸也比测量的微波波长大，故其对场的影响较大，对于测量远区场不会构成太大的问题，但对于测量近场、导体附近的场、腔体内的场时，就使测量不准确。文献[1]采用一个细小的金属棒作为散射器，用机械旋转的方式对其进行调制，利用互易原理，用一个天线既作为发射天线又作为接收天线的单站方式，在对场扰动很小的情况下准确地得到了场的分布。随后，散射器测量法得到了大量的应用和不断的改进。文献[2]在偶极子中部放入半导体器件，将机械调制改为半导体调制，简化了调制装置。文献[3]将半导体器件换为光敏元件，通过光照的方式实现了对散射器的调制。文献[4]用塑料光纤把调制信号从调制源送到散射器的光敏元件上，提高了调制精度。文献[5]在此基础上对该方法进行了进一步的研究和完善。本文利用光电二极管光导开关作为散射器中间部分的光调制单元，设计出了实用的光调制散射器微波测量系统。
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