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BL24Cxx系列EEPROM测试总结

消耗积分:3 | 格式:pdf | 大小: | 2022-01-12

王娟

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EEPROM芯片测试测试对象华大半导体|上海贝岭BL24C128ABL24C512ABL24CM1ABL24CM2A测试点1、芯片的使用寿命2、读写速度3、全片有效性4、温度临界值5、电压临界值6、IIC时钟延迟要求一、芯片的使用寿命芯片的使用寿命、就是芯片的读写次数，在使用存储过程中最重要就是数据的可靠性，如果写进去和读上来的不一致，可能会造成很大的损失。芯片手册上一般会注明芯片的读写寿命是多少。如BL24C128A芯片手册上标明的寿命为1百万次。在实际的长运过程中发现，
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