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探秘DLP® NIRscan™ Nano评估模块

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:357.67KB | 2022-11-02

李桂兰

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作为工程师和开发人员,我们的工作就是找到一个将所有元件组合在一起的最佳方法。不管是对于摩天大楼、还是集成电路,内部工程结构都是决定是否能够运转良好的关键之一。但说回来,又有谁不曾幻想做个“破坏王”,把东西都拆开来一探究竟呢?我们最初的与工程设计有关的记忆大部分都来自小时候把看起来复杂——甚至是昂贵——的东西拆得七零八落。   既然如此,我们就打算看一看DLP NIRscan Nano评估模块(EVM)的内部构造,我们将用老办法——拆开它。   需要注意的是,任何对光引擎的拆解都会使NIRscan Nano EVM的保修失效。另外,去掉光引擎上的罩子会使灰尘和污垢聚集在光学器件上,从而影响到系统性能。此外,去掉上面的罩子会移动光学器件、狭缝和探测器,导致这些元件错位,从而需要厂家重新进行对准和校准…

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