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吉时利精密直流I-V、交流阻抗以及超快I-V测量电

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:7.70 MB | 2011-03-28

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Ultra-fast I-V tests (pulsed I-V, transient I-V, and pulsed
sourcing ) have become increasingly important for many
technologies, including compound semiconductors,
medium power devices, non-volatile memory, MEMs,
nanodevices, solar cells, and CMOS devices. Find out
more about these tests in our 20 page guide to ultra-fast
I-V applications. Learn more

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