基于平面近场天线测量的基本理论, 以半波偶极子阵列天线为模型, 利用数值分析的方法研究了平面近场天线测量中的有限扫描面截断误差、位置误差和暗室环境误差对天线方向图副瓣特性的影响; 并用自比较法实测了探头和AUT 之间多次耦合的影响; 给出了有探头补偿时由近场数据确定天线远场方向图的计算公式和OEWG 探头的E 面和H 面方向图。通过与理论结果比较, 得出了上述5 项误差源产生的误差及其范围, 即测量天线方向图副瓣的不确定度大小。该研究为近场天线测量技术的误差分析和补偿提供了一定的理论依据。
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉