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扫描模式下 ADC 发生通道间串扰
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2015-12-06
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该问题由某客户提出，发生在 STM32F103VDT6 器件上。据其工程师讲述：在其产品中，需要使用 STM32 的 ADC 对多路模拟信号进行同步采样。在具体的实现上，采用了 ADC 常规通道的扫描模式来 完成这一功能。
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