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SOC测试访问机制

消耗积分:2 | 格式:rar | 大小:213 | 2009-08-27

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以复用为基础,通过测试访问机制(TAM, Test Access Mechanism)实现对深嵌在SOC(System On Chip)内部的IP 核(Intellectual Property, 知识产权模块)的测试,是解决SOC 测试的根本方法。本文将介绍现有的几类典型的测试访问机制:(1)直接测试访问,(2)基于总线的测试访问机制,(3)基于透明模型的访问机制等。分析它们的特点,探讨面临的主要问题。
关键词:SOC IP 核测试访问机制复用由来源不同、规模不同和描述不同的 IP 模块构成的SOC 的测试面临着重大挑战[1],目前测试成本已经占整个制造成本的50%。IEEE 于1997 年成立了IEEE P1500 工作组,着手制定与SOC 测试相关的标准[2]。该标准定义了测试复用的体系结构,强调在一定TAM 下复用IP 模块测试是解决SoC 测试问题的根本。本文介绍了自SOC 兴起以来的几种重要和典型的测试访问机制(TAM),分析比较了它们各自的特点,并讨论日后有待解决的主要问题。

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