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ICT测试工艺技术

消耗积分:10 | 格式:rar | 大小:455 | 2008-06-28

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ICT测试 SMT
SMT的高组装密度使得传统的测试方法陷入困境，在电路和SMB(Surface Mount Board)设计阶段就进行可测性设计是当今业界所普遍采用的方法，其目的是提高产品质量，降低测试成本和缩短产品的制造周期。就可测性设计DFT（Design For Testability）的概念而言，是一个包括集成电路的可测性设计（芯片设计）、系统级可测试性设计、板级可测试性设计以及电路结构的可测试性设计等方面的新兴的系统工程。它与现代的CAD/CAM技术紧密地联系在一起，对电子产品的质量控制，提高产品的可制造性，降低产品的测试成本，缩短产品的制造周期起着至关重要的作用。SMT的可测性设计主要是针对目前ICT装备情况。将后期产品制造的测试问题在电路和表面安装印制板SMB设计时就考虑进去。
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