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数字激励信号及模式发生器在数字设计测试中的应用
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2017-11-14
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数字设计的测试通常需要一个或多个数字信号，而某些信号非常难以生成。模式发生器是专为解决这个问题而设计的。测试某种设备需要在该设备中采用任何一种数字激励信号，模式发生器大都可以提供这些信号。另外，工程师可以使用模式发生器来将数字模式集成在整个测试序列的任何位置。另外，模式发生器还非常适合于半导体电子测试等应用，这些应用需要模式激励数据进行故障测试，并且数字系统通过用户定义的控制算法运行。在软件方面，模式发生器可以用作调试工具，软件工程师可以用它来开发针对待测设备（DUT）的应用。
数字激励信号可能在数字控制系统等其它应用中丢失。对于这种应用，可能需要多个变宽的数字激励信号，并要求具有足够内存以产生必要位的流模式。在这种情况下适合采用模式发生器，这是因为它可以被配置为一个字节、字和长字的宽度，从而实现长达 32 位或 6？位的通道，具体位数取决于仪器。另外，如果需要更多通道或扇出，可以使系统连接更多的发生器。相比之下，具有一位或双位输出通道的函数任意波发生器无法提供所需的扇出功能（除非以测试系统成本为代价）。图 1 显示了由模式发生器激励的待测设备的概念框图。
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