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射频开关在高低温电测试实验的改进

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:1.16 MB | 2017-11-15

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　　射频开关的失效主要是动作异常，而引起这一失效的主要因索有触点材料、触点表面处理工艺、触点间隙、动作时间、动作频率、动作电压、电流、环境温度等。其中环境温度是影响射频开关动作异常的一个重要因素。文中根据射频开关在高低温电测试试验中的各种失效现象，进行分析，找出失效原因，并提出了相应的改进措施。而针对最主要的失效原因进行了机构优化改进，并通过应力仿真分析模型和改进后试验结果得出，改进后的射频开关具有更好的可靠性。

射频开关在高低温电测试实验的改进

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