资料下载
×
集成电路EMC测试系统-传导发射测量方法--1Ω/150Ω
消耗积分:5 |
格式:rar |
大小:344 |
2010-07-18
李鸿洋
分享资料个
集成电路EMC测试系统-依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统-传导发射测量方法--1Ω/150Ω 直接耦合法:集成电路电磁兼容测试标准，目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967
和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。IEC61967 标准，用于150kHz 到1GHz
的集成电路电磁发射测试，包括以下六个部分：
第一部分：通用条件和定义（参考SAE J1752.1）
第二部分：辐射发射测量方法－TEM 小室法（参考SAE J1752.3）
第三部分：辐射发射测量方法－表面扫描法（参考SAE J1752.2）
第四部分：传导发射测量方法－1Ω/150Ω 直接耦合法
第五部分：传导发射测量方法－法拉第笼法WFC
第六部分：传导发射测量方法－磁场探头法
和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。IEC61967 标准，用于150kHz 到1GHz
的集成电路电磁发射测试，包括以下六个部分：
第一部分：通用条件和定义（参考SAE J1752.1）
第二部分：辐射发射测量方法－TEM 小室法（参考SAE J1752.3）
第三部分：辐射发射测量方法－表面扫描法（参考SAE J1752.2）
第四部分：传导发射测量方法－1Ω/150Ω 直接耦合法
第五部分：传导发射测量方法－法拉第笼法WFC
第六部分：传导发射测量方法－磁场探头法
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉
评论(0)
发评论
- 相关下载
- 相关文章
