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Flash存储器的内建自测试设计
消耗积分:5 |
格式:rar |
大小:134 |
2010-07-31
刘艳
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内建自测试是一种有效的测试存储器的方法。分析了NOR型flash存储器的故障模型和测试存储器的测试算法，在此基础上，设计了flash存储器的内建自测试控制器。控制器采用了一种23位的指令，并且通过JATG接口来控制，结果通过扫描链输出。验证结果表明，设计的内建自测试结构对固定故障、转换故障、桥接故障、耦合故障、栅极干扰、漏极干扰、过渡擦除和读干扰均有100%的故障覆盖率。
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