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半导体分立器件接收和可靠性 GB 4938-85
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2008-10-22
安德森大
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半导体分立器件接收和可靠性 GB 4938-85
本标准等同采用国际标准IEC 147-4（1976）第四部分：接收和可靠性。
本标准列出了适用于半导体分立器件的电耐久性试验方法可以从中选择使用。
半导体分立器件试验所引用的可靠笥资料，IEC319电子元件或部件的可靠性数据介绍。
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