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VLSI边界扫描测试故障诊断

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:196 KB | 2011-07-04

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介绍了支持JTAG 标准的IC 芯片结构和故障测试的4-wire 串行总线，以及运用边界扫描故障诊断的原理。实验中分析了IC 故障类型、一般故障诊断流程和进行扫描链本身完整性测试的方案，并提出了一种外加测试码向量生成的算法。该故障诊断策略通过两块xc9572 pc84 芯片互连PCB 板的实现方法进行验证，体现了该策略对于芯片故障定位准确、测试效率高、控制逻辑简便易行的优越性
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