于NAND闪存的固态盘凭借其体积小、非易失性、访问速度快、可靠性高以及功耗低等诸多优点,能较好缓解I/O性能瓶颈问题,已经逐渐成为研究热点。但是由于写前擦除特性和擦除次数有限从而严重影响SSD的可靠性,在产业界引起不少波动,如何在现有基础上提高固态盘的可靠性成为学术界和产业界关注的研究重点。本文在介绍基于闪存固态盘技术特性的基础上,分析了其内部结构,对从芯片级到系统级的可靠性影响因素进行了着重研究分析,并给出了部分解决方案。
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