×

直流和脉冲工作的VDMOS可靠性试验

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:1.31 MB | 2011-12-01

分享资料个

基于恒定电应力温度斜坡法（ＣＥＴＲＭ），对工作于直流状态和脉冲状态下的ＶＤＭＯＳ 功率器件进行可靠性研究，考察了器件阈值电压、跨导以及导通电阻的退化情况，得出在两种工作状态下均是跨导为失效敏感参数。

下载并关注上传者 低至0.43元/天 开通VIP 免费下载

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !